防止高压击穿测温元件后，损坏设备或伤人。

　　应该是避免测温元件在做高压耐压试验时免被烧毁的原因吧。对这个问题不是非常的了解。出于常识判断。如有比较正确的答案，希望能给予指教。谢谢！

　　耐压试验属于绝缘试验，是考虑绕组的绝缘裕度，是一种破坏性试验，试验压力高于额定压力许多。绝缘材料会有泄漏电流，产生电位差，测温元件埋入绝缘材质中，可能会有高电位产生，如果测温原件不接地会造成电位过高烧毁，或者感应电造成温度原件的测量误差。所以需要把测温元件屏蔽，短接接地。消除高电位影响。

　　考虑绕组的绝缘裕度，是一种破坏性试验，试验压力高于额定压力许多。绝缘材料会有泄漏电流，产生电位差，测温元件埋入绝缘材质中，可能会有高电位产生，如果测温原件不接地会造成电位过高烧毁，或者感应电造成温度原件的测量误差。所以需要把测温元件屏蔽，短接接地。消除高电位影响。

　　为了保护后端处理器的I/O口。

　　测温元件接的是微处理器的I/O输入端。如果不进行短路在测试时有高压感应电流串入I/O口会把处理器引脚损坏。重则烧毁处理器。